Logo de la nova xarxa europea per a la formació en Microscòpia de Sonda de Rastreig (SPM)
Aquesta formació abastarà des dels principis elementals de la tècnica fins a les seves aplicacions industrials, amb l’objectiu que els participants del programa facin nous descobriments científics en aquesta àrea. Els 14 estudiants de la xarxa rebran a més un entrenament tècnic sobre transferència de tecnologia per millorar la seva ocupabilitat i preparació per a llocs en el sector privat i públic.
Les tècniques de microscòpia avançada són un dels pilars fonamentals per a la recerca i fabricació de productes nanotecnològics. La SPM és la tècnica de microscòpia avançada que major evolució ha experimentat, fins i tot desafiant alguns fonaments establerts. Aquests sistemes d’última generació ofereixen millores sense precedents en l’escaneig 3D amb precisió nanomètrica, en l’increment de la velocitat de rastreig o el mapeig de la sensibilitat química.
“Europa lidera el desenvolupament científic i tecnològic de la Microscòpia de Sonda de Rastreig en l’actualitat” diu el Gabriel Gomila, investigador principal del grup Nanoscale Bioelectrical Characterization de l’IBEC, que coordinarà el projecte de 3.6 milions d’euros. “L’objectiu principal de la nostra xarxa és consolidar a Europa com a líder en tecnologies SPM i en les seves creixents aplicacions en desenvolupament de materials, microelectrònica, biologia i medicina”.
SPM2.0 és un dels 121 projectes seleccionats d’entre les 1367 sol·licituds rebudes en la convocatòria actual, i un dels pocs coordinats a Espanya.
La reunió inaugural de la xarxa es celebrarà a l’IBEC els dies 26 i 27 de gener del recentment estrenat 2017.
—
Lloc web del consorci: http://www.spm20.eu/
