Logo de la nueva red europea para la formación en Microscopía de Sonda de Barrido (SPM)
Esta formación abarcará desde los principios elementales de la técnica hasta sus aplicaciones industriales, con el objetivo de que los participantes del programa hagan nuevos descubrimientos científicos en esta área. Los 14 estudiantes de la red recibirán además un entrenamiento técnico sobre transferencia de tecnología para mejorar su empleabilidad y preparación para puestos en el sector privado y público.
Las técnicas de microscopía avanzada son uno de los pilares fundamentales para la investigación y fabricación de productos nanotecnológicos. La SPM es la técnica de microscopía avanzada que mayor evolución ha experimentado, incluso desafiando algunos fundamentos establecidos. Estos sistemas de última generación ofrecen mejoras sin precedentes en el escaneo 3D con precisión nanométrica, en el incremento de la velocidad de barrido o el mapeo de la sensibilidad química.
“Europa lidera el desarrollo científico y tecnológico de la Microscopía de Sonda de Barrido en la actualidad” dice Gabriel Gomila, investigador principal del grupo Nanoscale Bioelectrical Characterization del IBEC, que coordinará el proyecto de 3.6 millones de euros. “El objetivo principal de nuestra red es consolidar a Europa como líder en tecnologías SPM y en sus crecientes aplicaciones en desarrollo de materiales, microelectrónica, biología y medicina”.
SPM2.0 es uno de los 121 proyectos seleccionados de entre las 1367 solicitudes recibidas en la convocatoria actual, y uno de los pocos coordinados en España.
La reunión inaugural de la red se celebrará en el IBEC los días 26 y 27 de enero del recién estrenado 2017.
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Sitio web del consorcio: http://www.spm20.eu/
